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远届测控设备(青岛)有限公司
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YNM系列白光形貌测量仪
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国际最前沿的高分辨率三维图像扫描与表面形貌测量
• 彩色共焦距离测量使用聚焦透镜中白光的色散来确定反射表面和传感器之间的距离。
• 色散将蓝光部分聚焦在更靠近透镜的位置,而红光部分聚焦在更远的位置。
• 该技术非常适用于透明、高光泽和哑光黑色表面。

描述
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描述
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特色功能
• 用于自动测量样品的二维、三维表面形貌、表面粗糙度、关键尺寸(包括高度、孔洞深度、长度等)、关键部位的面积和体积等表面参数。
• 最小 2nm 的分辨率;测量具有非破坏性,测量速度快,精确度高;测量范围广,可测透明、金属材料,半透明、高漫反射,低反射率、抛光、粗糙材料(金属、玻璃、木头、合成材料、光学材料、塑料、涂层、涂料、漆、纸、皮肤、头发、牙齿等);
• 适合测量高坡度高曲折度的材料表面(最高坡度为 86°, 接近垂直);
• 不受样品反射率的影响;不受环境光的影响;
• 测量简单,样品无需特殊处理;
 
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